• facebook
  • pinterest
  • twitter
  • rss
  • mail
  • Directory
  • Intranet
  • Webmail
  • Contacts
  • Access
  • Switch Language
    • frFrançais (French)
    • enEnglish
INSTITUT DE PHYSIQUE ET DE CHIMIE DES MATERIAUX DE STRASBOURG
  • Laboratory
    • Introduction
    • Organigram
    • General Services
    • Quality policy
    • Publications
    • Valorisation
    • News
    • Events
    • Some figures
    • Addept
    • IPCMS’ 30th Anniversary
  • Departments
    • Inorganic Materials Chemistry (DCMI)
    • Organic Materials (DMO)
    • Magnetic Objects on the NanoScale (DMONS)
    • Ultrafast Optics and Nanophotonics (DON)
    • Surfaces and Interfaces (DSI)
  • Teaching
    • Formations
    • Ecole-Doctorale
    • Master Condensed Matter and Nanophysics
    • Master Materials and Nanosciences (MNS)
    • Master of Science of Imaging, Robotics and Biomedical Engineering (IRIV)
    • Masters ” Chemistry”
    • International Graduate School QMat
  • EXCELLENCE Programs
    • Union
    • UTEM
    • NIE
  • Partnerships
    • CARMEN
    • Carnot Mica Institut
    • Start’Up SuperBranche
    • Material and Nanoscience Federation of Alsace
    • International Center for Frontier Research in Chemistry
    • International Relationship
      • LIA LaFICS
      • French-German Graduate School
      • Rhin Solar
  • Facilities
    • Nanofab
    • Electron Microscopy
    • X-ray diffraction platform
    • Optical Characterization
    • Scientific computing
Navigation
Electron Microscopy Jacques FAERBER

Jacques FAERBER

No Photo Available
M. Jacques FAERBER Ingénieur de recherche (IR2) – UNISTRAIPCMS – Département Surfaces et Interfaces (DSI)
Téléphone: +33 (0)3 88 10 71 01workFax: +33 (0)3 88 10 72 49workfax Courriel: INTERNET
Page Personnelle

Domaines de compétences :

- Microscopie Electronique à Balayage et Microanalyse X (HR-SEM et X-EDS)
Memento MEB et Microanalyse X (fichier pdf)

- Technologie du vide et de l’ultra-vide
pompe à diffusion (fichier pdf)
pompe à palette (fichier pdf)
pompe turbomoléculaire (fichier pdf)
Critères de choix de capteurs de pression en technologie du vide – RT-Vide – La Rochelle 2012

- Depôt de couches minces

- Analyse de surface (AES, LEED, XPS)

Documents utiles, anciens ou rares, pour la microscopie, le vide et les couches minces :

Les calculs de la technologie du Vide – J. Delafosse, G. Mongodin – Le Vide 92 – 1961
Une référence toujours citée, introuvable sauf dans de rares bibliothèques, et qui quoique ancienne reste très utile.
“N’ayant pas de droit sur cet ouvrage, il ne peut être mis en téléchargement libre, mais est disponible en pdf. Veuillez me contacter.”

Transparents de cours

Transparents de cours – MEB (fichier pdf)

Transparents de cours Microscopie Optique et autres documents utiles

Transparents de cours – Technologie du Vide (fichier pdf)

Publications

1839302 faerber items 1 surface-science-reports year DESC 1 http://www.ipcms.unistra.fr/wp-content/plugins/zotpress/

Institut de Physique et de Chimie des Matériaux de Strasbourg

  • /Crédits
  • /Mentions légales
  • /Login
Optimization WordPress Plugins & Solutions by W3 EDGE