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M. Jacques FAERBER Ingénieur de recherche (IR2) – UNISTRAIPCMS – Département Surfaces et Interfaces (DSI)
Téléphone: +33 (0)3 88 10 71 01Fax: +33 (0)3 88 10 72 49 Courriel: Jacques FAERBER
Domaines de compétences :
Microscopie Electronique à Balayage et Microanalyse X (HR-SEM et X-EDS)
Memento MEB et Microanalyse X (fichier pdf)
Technologie du vide et de l’ultra-vide
pompe à diffusion (fichier pdf)
pompe à palette (fichier pdf)
pompe turbomoléculaire (fichier pdf)
Critères de choix de capteurs de pression en technologie du vide – RT-Vide – La Rochelle 2012
Depôt de couches minces
Analyse de surface (AES, LEED, XPS)
Documents utiles, anciens ou rares, pour la microscopie, le vide et les couches minces :
Les calculs de la technologie du Vide – J. Delafosse, G. Mongodin – Le Vide 92 – 1961
Une référence toujours citée, introuvable sauf dans de rares bibliothèques, et qui quoique ancienne reste très utile.
“N’ayant pas de droit sur cet ouvrage, il ne peut être mis en téléchargement libre, mais est disponible en pdf. Veuillez me contacter.”
Publications