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INSTITUT DE PHYSIQUE ET DE CHIMIE DES MATERIAUX DE STRASBOURG
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Microscopie Electronique Microscopie Electronique en Transmission

Microscopie Electronique en Transmission

Two transmission electron microscopes (JEOL 2100F, Topcon 002B) are in operation with a periphery comprising specimen stages for in-situ electron microscopy and electron tomography as well as a specimen preparation facility. The standard techniques of nanocharacterization are available such as high-resolution imaging, electron diffraction, electron energy-loss spectroscopy, and electron tomography. The expertise is focused on in-situ electron microscopy and electron tomography where the group\’s own research projects are carried out.

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Le personnel

Corinne BOUILLET

Photo de Mme Corinne BOUILLET
Ingénieure de Recherche (IR HC) – CNRSIPCMS – Département Surfaces et Interfaces (DSI) 23 rue du Loess BP 43 Bureau : 0032 Strasbourg 67034 work Téléphone: +33 (0)3 88 10 70 30workFax: +33 (0)3 88 10 72 49workfax Courriel: INTERNET Site internet: page personnelle

Ovidiu ERSEN

Photo de M. Ovidiu ERSEN
Professeur des universités – UNISTRAIPCMS – Département Surfaces et Interfaces (DSI) 23 rue du Loess BP 43 Bureau : 1041 Strasbourg 667034 work Téléphone: +33 (0)3 88 10 70 28workFax: +33 (0)3 88 10 72 49workfax Courriel: INTERNET Site internet: page personnelle

Dris IHIAWAKRIM

Photo de M. Dris IHIAWAKRIM
Ingénieur d’Etudes (IEHC) – CNRSIPCMS – Plateforme Microscopie électronique 23 rue du Loess BP 43 Bureau : 0031 Strasbourg 67034 work Téléphone: +33 (0)3 88 10 70 15workFax: +33 (0)3 88 10 72 49workfax Courriel personnel: INTERNET Site internet: page personnelle

Formation CNRS : La tomographie électronique – théorie et pratique

Instrumentation

Transmission electron microscopes

– Jeol 2100F (200 kV, Cs-corrected condenser, imaging filter, EDX, biprism, 2 CCD cameras) – Topcon 002B (200 kV, EDX, CCD camera)

Specimen stages

– single and double tilt – tomography (+/- 80°) – heating (< 1000°C) – cooling (liq. N2) – STM Nanofactory

Specifications of the instrumentation

– image resolution in STEM: 0.11 nm – image resolution in TEM: 0.2 nm – energy resolution in EELS: 0.7 eV – tilt range for tomography: +/- 80° – specimen temperature range: -190 – 1000°C

  • _DSC8308

Specimen preparation facilities

– mechanical grinding, cutting, dimpling etc. – ion milling – chemical preparation

Techniques

– scanning transmission electron microscopy STEM – in-situ electron microscopy – electron tomography – electron energy-loss spectroscopy EELS – electron diffraction – electron holography

Services Work

for other groups concentrates on (at present): – spintronics – inorganic materials – catalysis

Applications

– Independent research projects of the platform are carried out in the fields of: – carbon nanomaterials (graphene, nanotubes) – nanocomposites (carbon-metal nanoparticles) – atomic defects in nanomaterials – interfaces in nanomaterials – nanoparticles in catalysis

Education

Electron microscopy is now part of regular courses for the bachelor and master level in physics at the University of Strasbourg. Courses are also held for the PhD school (Ecole Doctorale de Physique) in Strasbourg. Several PhD students carry out their research dedicated to electron microscopy.

Institut de Physique et de Chimie des Matériaux de Strasbourg

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